半導體多工位并行老化測試Chamber的在芯片驗證中的應用

2025年8月8日 134

在半導體行業(yè)的快速發(fā)展中需要產(chǎn)品驗證的環(huán)節(jié)。如何準確地評估半導體產(chǎn)品在各種苛刻條件下的性能與可靠性，成為制約產(chǎn)品上市速度與質(zhì)量的關(guān)鍵因素。半導體多工位并行老化測試Chamber作為一種創(chuàng)新性的測試設(shè)備，通過多任務處理能力，實現(xiàn)了對多批次、多類型產(chǎn)品的同步...

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