定制化半導(dǎo)體老化測(cè)試箱體的設(shè)計(jì)理念與存儲(chǔ)芯片驗(yàn)證中的應(yīng)用解析

2025年8月8日 164

在半導(dǎo)體制造與測(cè)試領(lǐng)域，老化測(cè)試是確保芯片長(zhǎng)期可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。隨著半導(dǎo)體技術(shù)的快速發(fā)展，測(cè)試需求日益多樣化，傳統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試設(shè)備已難以滿(mǎn)足不同場(chǎng)景下的準(zhǔn)確需求。因此，定制化半導(dǎo)體老化測(cè)試箱體逐漸成為行業(yè)的重要解決方案，其核心在于通過(guò)靈活的設(shè)計(jì)適...

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