半導體控溫老化測試Chamber高精度溫控系統(tǒng)在芯片可靠性驗證中的作用

2025年7月25日 175

在半導體產(chǎn)業(yè)中，芯片的可靠性可以決定終端產(chǎn)品的性能與使用周期。半導體控溫老化測試chamber通過對溫度等環(huán)境參數(shù)的嚴格控制，為芯片可靠性評估提供了標準化的試驗環(huán)境，其溫控技術的成熟度直接影響測試結果的可信度。

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